Experimental fault characterization of a neural network /

מידע ביבליוגרפי

מחבר ראשי:	Tan, Chang-Huong.
מחבר תאגידי:	Langley Research Center.
פורמט:	Government Document מיקרופילם כתב-יד ספר
שפה:	English
יצא לאור:	[Urbana, Ill.] : [Hampton, Va.] : [Springfield, Va.] : University of Illinois at Urbana-Champaign ; [National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center] ; [National Technical Information Service, distributor], [1990]
סדרה:	NASA contractor report ; NASA CR-186885.
נושאים:	Classifications. Defects. Neural nets. Simulation. Systems analysis.
גישה מקוונת:	https://purl.fdlp.gov/GPO/LPS65381 connect to online version. (PDF)