Experimental fault characterization of a neural network /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Tan, Chang-Huong.
מחבר תאגידי: Langley Research Center.
פורמט: Government Document מיקרופילם כתב-יד ספר
שפה:English
יצא לאור: [Urbana, Ill.] : [Hampton, Va.] : [Springfield, Va.] : University of Illinois at Urbana-Champaign ; [National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center] ; [National Technical Information Service, distributor], [1990]
סדרה:NASA contractor report ; NASA CR-186885.
נושאים:
גישה מקוונת:https://purl.fdlp.gov/GPO/LPS65381
connect to online version. (PDF)