Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Toggle navigation
VuFind
Jazyk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Hledat
Pokročilé
Zrušit filtry
Signatura:
T - Technologie
Žánr:
Congrès
Období:
1999
Autor:
Chen, Philip T.
Doporučená témata:
Streuung
Zrušit filtry
Zobrazit filtry (5)
Signatura:
T - Technologie
Žánr:
Congrès
Období:
1999
Autor:
Chen, Philip T.
Doporučená témata:
Streuung
ConnectNY is ceasing participation in the ReShare Interlibrary Loan Service.
Please contact staff at your library about options for interlibrary loan services.
Výsledky vyhledávání
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
CONFERENCES
1
CONTAMINATION
1
Contamination de surface
1
Diffusion (Physique nucléaire)
1
Kongress
1
LIGHT SCATTERING
1
Measurement
1
více ...
Rauigkeit
1
Rugosimétrie
1
SPACECRAFT
1
SURFACES
1
Scattering (Physics)
1
Streuung
Surface contamination
1
Surface roughness
1
méně ...
Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,03 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Signatury
Autor
Název
1
Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado /
Vydáno 1999
Signatura:
Načítá se...
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat e-mailem
Zpět
Upřesnit hledání
Médium
Kniha
1
Rok vydání
Od:
do:
Autor
Chen, Philip T.
Gu, Zu-Han
1
Maradudin, Alexei A., 1931-
1
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
1
Signatura
T - Technologie
Žánr
Conference papers and proceedings
1
Congresses
1
Congrès
Denver (Colo., 1999)
1
Kongress
1
Doporučená témata
CONFERENCES
1
CONTAMINATION
1
Contamination de surface
1
Diffusion (Physique nucléaire)
1
Kongress
1
LIGHT SCATTERING
1
více ...
Measurement
1
Rauigkeit
1
Rugosimétrie
1
SPACECRAFT
1
SURFACES
1
Scattering (Physics)
1
Streuung
Surface contamination
1
Surface roughness
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Období
1999
Oblast
Denver (Colo.)
1
Instituce
Rensselaer Polytechnic Institute
1
Jazyk
English
1
Načítá se...