Rezultaty
1 - 1
Rezultaty od
1
Dla wyszukiwania '
'
Przejdź do treści
Toggle navigation
VuFind
Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Usuń filtry
Sygnatura:
T - Technologia
Gatunek:
Congrès
Era:
1999
Autor:
Chen, Philip T.
Podobne hasła:
Streuung
Usuń filtry
Pokaż filtry (5)
Sygnatura:
T - Technologia
Gatunek:
Congrès
Era:
1999
Autor:
Chen, Philip T.
Podobne hasła:
Streuung
ConnectNY is ceasing participation in the ReShare Interlibrary Loan Service.
Please contact staff at your library about options for interlibrary loan services.
Rezultaty
Podobne hasła w twoim wyszukiwaniu.
Podobne hasła w twoim wyszukiwaniu.
CONFERENCES
1
CONTAMINATION
1
Contamination de surface
1
Diffusion (Physique nucléaire)
1
Kongress
1
LIGHT SCATTERING
1
Measurement
1
Więcej ...
Rauigkeit
1
Rugosimétrie
1
SPACECRAFT
1
SURFACES
1
Scattering (Physics)
1
Streuung
Surface contamination
1
Surface roughness
1
Mniej ...
Rezultaty
1 - 1
Rezultaty od
1
Dla wyszukiwania '
'
, Czas wyszukiwania: 0,02s
Redukuj rezultaty
Sortuj
Ważność
Według najnowszych
Według najstarszych
Sygnatura
Autor
Tytuł
1
Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado /
Wydane 1999
Sygnatura:
Ładuje się......
Zlokalizowane:
Ładuje się......
Książka
Ładuje się......
Narzędzie wyszukiwania:
Abonuj RSS
—
Wyślij rezultaty emailem
z powrotem
Redukuj rezultaty
Format
Książka
1
Rok wydania
od:
do:
Autor
Chen, Philip T.
Gu, Zu-Han
1
Maradudin, Alexei A., 1931-
1
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
1
Sygnatura
T - Technologia
Gatunek
Conference papers and proceedings
1
Congresses
1
Congrès
Denver (Colo., 1999)
1
Kongress
1
Podobne hasła
CONFERENCES
1
CONTAMINATION
1
Contamination de surface
1
Diffusion (Physique nucléaire)
1
Kongress
1
LIGHT SCATTERING
1
Więcej ...
Measurement
1
Rauigkeit
1
Rugosimétrie
1
SPACECRAFT
1
SURFACES
1
Scattering (Physics)
1
Streuung
Surface contamination
1
Surface roughness
1
Zobacz wszystkie ...
Mniej ...
Era
1999
Region
Denver (Colo.)
1
Instytucja
Rensselaer Polytechnic Institute
1
Język
English
1
Ładuje się......