Gösterilen
1 - 1
sonuçlar arası kayıtlar.
1
sonuç. Aranan kelime '
'
İçeriği atla
Toggle navigation
VuFind
Dil
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Ara
Gelişmiş
Filtreleri Sıfırla
Materyal Türü:
Resmi Belge
Yer Numarası:
Q - Bilim
Tür:
Rapports techniques
Yazar:
Candela, G. A. (George A.)
Filtreleri Sıfırla
Gösterilen flitre sayısı (4)
Materyal Türü:
Resmi Belge
Yer Numarası:
Q - Bilim
Tür:
Rapports techniques
Yazar:
Candela, G. A. (George A.)
ConnectNY is ceasing participation in the ReShare Interlibrary Loan Service.
Please contact staff at your library about options for interlibrary loan services.
Arama Sonuçları
Önerilen Konular
Önerilen Konular
Couches minces
1
Ellipsometry
1
Ellipsométrie
1
Evaluation
1
Évaluation
1
Indice de réfraction
1
Mathematical models
1
daha fazla ...
Modèles mathématiques
1
Refractive index
1
Réfractométrie
1
Silica
1
Silice
1
Silicium
1
Silicon
1
Silicon Dioxide
1
silica (mineral)
1
silicon
1
daha az ...
Gösterilen
1 - 1
sonuçlar arası kayıtlar.
1
sonuç. Aranan kelime '
'
, Sorgu süresi: 0.02s
Sonuçları Daraltın
Sırala
İlgili
Tarih-Azalan
Tarih-Artan
Yer Numarası
Yazar
Materyal Adı
1
Preparation and certification of SRM-2530, ellipsometric parameters [delta] and [psi] and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon /
Baskı/Yayın Bilgisi 1988
Yer Numarası:
Yüklüyor......
Bulunduğu Yer:
Yüklüyor......
Resmi Belge
Kitap
Yüklüyor......
Arama Araçları:
RSS Beslemesi
—
Aramayı e-posta ile gönder
Geri
Aramayı Daralt
Materyal Türü
Kitap
1
Resmi Belge
Yayın Tarihi
den:
Kime:
Yazar
Candela, G. A. (George A.)
National Institute of Standards and Technology (U.S.)
1
Yer Numarası
Q - Bilim
Tür
Rapports techniques
Technical reports
1
technical reports
1
Önerilen Konular
Couches minces
1
Ellipsometry
1
Ellipsométrie
1
Evaluation
1
Évaluation
1
Indice de réfraction
1
daha fazla ...
Mathematical models
1
Modèles mathématiques
1
Refractive index
1
Réfractométrie
1
Silica
1
Silice
1
Silicium
1
Silicon
1
Silicon Dioxide
1
silica (mineral)
1
silicon
1
Hepsini Gör ...
daha az ...
Dil
English
1
Yüklüyor......