Zobrazuji výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Toggle navigation
VuFind
Jazyk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Hledat
Pokročilé
Zrušit filtry
Doporučená témata:
Defects
A
Testing
A
Integrated circuits
Zrušit filtry
Zobrazit filtry (3)
Doporučená témata:
Defects
A
Testing
A
Integrated circuits
ConnectNY is ceasing participation in the ReShare Interlibrary Loan Service.
Please contact staff at your library about options for interlibrary loan services.
Výsledky vyhledávání
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
Circuits intégrés à très grande échelle
2
Defects
Défauts
2
Integrated circuits
Integrierte Schaltung
2
Testing
Very large scale integration
2
více ...
Circuits intégrés
1
Computer simulation
1
Computer-Aided Design
1
Computer-aided design
1
Conception assistée par ordinateur
1
Fehlererkennung
1
Fehlersimulation
1
Fiabilité
1
Kongress
1
Microelectronics
1
Microélectronique
1
Reliability
1
Simulation par ordinateur
1
Zuverlässigkeit
1
computer-aided designs (visual works)
1
méně ...
Zobrazuji výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,02 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Signatury
Autor
Název
1
From contamination to defects, faults, and yield loss : simulation and applications /
Autor
Khare, Jitendra B.
Vydáno 1996
Signatura:
Načítá se...
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
2
Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis IV : 23-24 September, 1998, Santa Clara, California /
Vydáno 1998
Signatura:
Načítá se...
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat e-mailem
Zpět
Upřesnit hledání
Médium
Kniha
2
Rok vydání
Od:
do:
Autor
Hartmann, Hans-Dieter
1
Khare, Jitendra B.
1
Maly, W.
1
Prasad, Sharad
1
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
1
Tsujide, Tohru
1
Signatura
T - Technologie
2
Žánr
Conference papers and proceedings
1
Congresses
1
Congrès
1
Santa Clara (Calif., 1998)
1
Doporučená témata
Circuits intégrés à très grande échelle
2
Defects
Défauts
2
Integrated circuits
Integrierte Schaltung
2
Testing
více ...
Very large scale integration
2
Circuits intégrés
1
Computer simulation
1
Computer-Aided Design
1
Computer-aided design
1
Conception assistée par ordinateur
1
Fehlererkennung
1
Fehlersimulation
1
Fiabilité
1
Kongress
1
Microelectronics
1
Microélectronique
1
Reliability
1
Simulation par ordinateur
1
Zuverlässigkeit
1
computer-aided designs (visual works)
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Instituce
Rensselaer Polytechnic Institute
2
Jazyk
English
2
Načítá se...