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Testing
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标题
1
From contamination to defects, faults, and yield loss : simulation and applications /
由
Khare, Jitendra B.
出版 1996
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图书
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2
Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis IV : 23-24 September, 1998, Santa Clara, California /
出版 1998
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格式
图书
2
出版年
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到:
作者
Hartmann, Hans-Dieter
1
Khare, Jitendra B.
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Maly, W.
1
Prasad, Sharad
1
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
1
Tsujide, Tohru
1
索引号
T - Technology
2
流派
Conference papers and proceedings
1
Congresses
1
Congrès
1
Santa Clara (Calif., 1998)
1
主题建议
Circuits intégrés à très grande échelle
2
Defects
Défauts
2
Integrated circuits
Integrierte Schaltung
2
Testing
更多 ...
Very large scale integration
2
Circuits intégrés
1
Computer simulation
1
Computer-Aided Design
1
Computer-aided design
1
Conception assistée par ordinateur
1
Fehlererkennung
1
Fehlersimulation
1
Fiabilité
1
Kongress
1
Microelectronics
1
Microélectronique
1
Reliability
1
Simulation par ordinateur
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Zuverlässigkeit
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computer-aided designs (visual works)
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机构
Rensselaer Polytechnic Institute
2
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English
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