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2
Planar test structures for characterizing impurities in silicon /
Publicado em 1976

Documento Governamental Livro
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Proceedings /
Publicado em 1976

Anais de Congresso Livro
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4
From contamination to defects, faults, and yield loss : simulation and applications /
por Khare, Jitendra B.
Publicado em 1996

Livro
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6
Quality conformance and qualification of microelectronic packages and interconnects /
Publicado em 1994

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7
Development and evaluation of an intrinsic gettering process for fabrication of integrated circuits /
por Will, James A., II
Publicado em 2000

Tese Livro
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8
Nondestructive evaluation and flaw criticality for composite materials : a symposium /
Publicado em 1979

Livro
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9
Effect of die cutting on polymeric materials /
por Jain, Pushpak
Publicado em 2007

Tese Livro
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10
Permanent/durable book paper; summary.
Publicado em 1960

Anais de Congresso Livro
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