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1
A production-compatible microelectronic test pattern for evaluating photomask misalignment /
著者:
Russell, T. J. (Thomas James), 1943-
,
Maxwell, Dwight A.
出版事項 1979
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政府資料
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The power of symbols : masks and masquerade in the Americas /
出版事項 1983
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会議録
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Antireflecting-chromium linewidth standard, SRM 473, for calibration of optical microscope linewidth measuring systems /
著者:
Potzick, James E.
出版事項 1997
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4
Accurate linewidth measurement on integrated-circuit photomasks /
出版事項 1980
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5
A Book of masques ; in honour of Allardyce Nicoll.
出版事項 1967
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会議録
1
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United States. National Bureau of Standards
2
Center for Electronics and Electrical Engineering (U.S.). Electron Devices Division
1
Crumrine, N. Ross
1
Halpin, Marjorie M., 1937-
1
International Congress of Americanists
1
Jerke, John M.
1
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Maxwell, Dwight A.
1
National Institute of Standards and Technology (U.S.)
1
Nicoll, Allardyce, 1894-1976
1
Potzick, James E.
1
Russell, T. J. (Thomas James), 1943-
1
United States. Advanced Research Projects Agency
1
United States. Defense Advanced Research Projects Agency
1
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請求記号
Q - 自然科学
3
E - 合衆国史
1
P - 言語と文学
1
ジャンル
Actes de congrès
1
Conference papers and proceedings
1
Congress
1
Congresses
1
Congrès
1
Electronic books
1
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Festschriften
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Fiction
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Masques
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Masques (Spectacles)
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地理区分
America
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Amerika
1
Amérique
1
Amérique du Nord
1
Amérique du Sud
1
China
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Mexique
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機関
Rensselaer Polytechnic Institute
3
Pace University
1
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English
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