Independent component analyses, wavelets, and neural networks : 22-25 April, 2003, Orlando, Florida, USA /
Korporacja: | |
---|---|
Kolejni autorzy: | , , |
Format: | Książka |
Język: | English |
Wydane: |
Bellingham, Wash. :
SPIE,
©2003.
|
Seria: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 5102. |
Hasła przedmiotowe: |
RPI
Sygnatura: |
QA278 .I53 2003 |
---|