Anar al contingut
Toggle navigation
VuFind
El teu compte
Tancar la sessió
Autenticació institucional
Idioma
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Trobar
Avançada
Made to measure :
Fons
Citar
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Afegir a favorits
Made to measure : UMS-Pastoe and Cees Braakman, 1948-1968 /
Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal:
Kuyper, Daan de
Autor corporatiu:
R Gallery (New York, N.Y.)
Format:
Llibre
Idioma:
English
Publicat:
New York :
R Gallery,
[c2000]
Matèries:
Braakman, Cees,
>
1917-1995
>
Exhibitions.
UMS-Pastoe (Utrecht, Netherlands)
>
Exhibitions.
Furniture design
>
Netherlands
>
History
>
20th century
>
Exhibitions.
Fons
Descripció
Visualització del personal
//IF NOT LOGGED IN - FORCE LOGIN ?>
Request
//ELSE THEY ARE LOGGED IN PROCEED WITH THE OPEN URL CODE:?>
Pratt Institute
Detall dels fons de Pratt Institute
RIT
Detall dels fons de RIT
Signatura:
NK2570.U45 A4 2000
Carregant...