Technologies for synthetic environments : hardware-in-the-loop testing VI : 16-18 April, 2001, Orlando, [Florida] USA /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
Outros autores: Murrer, Robert Lee
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: Bellingham, Wash. : SPIE, ©2001.
Series:Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 4366.
Subjects:

RPI

Detalle de Existencias desde RPI
Número de Clasificación: UG1310 .T43 2001